FTIR儀校準和期間核查

(1)校準  目前FTIR儀一般采用國家教委（現教育部）標準JJG（教委）001-1996《傅里葉變換紅外光譜儀檢定規程》進行校準。該方法規定FTIR儀的校準周期為兩年，適用于新安裝或維修后的校準和定期校準；校準的主要內容包括波段范圍、基線噪聲、分辨率、準確度、重復性、計算機功能等。
(2)期間核查  根據ISO/IEC 17025：2005《檢測和校準實驗室能力的要求》或CNAS-CLOI：，2006《檢測和校準實驗室能力認可準則》要求，檢測儀器應進行期間核查。期間核陔查是指為保持對儀器設備校準狀態的可信度，防止儀器由于性能下降或有故障發生E而使測定結果偏離而產生錯誤信息，在兩次檢定或校準之間進行的核查。
只要有標準聚苯乙烯薄膜即可，如果日常使用的是2cm^-1以下分辨率，可按照JJG（教委）001-1996中規定的方法進行；如果要核查1cm^-1以上高分辨率，還需要有分析純的CO氣體和10cm氣體池。作為期間核查，不一定所有項目都進行核查，每次可只選擇其中幾個項目核查，不同的期間輪換核查項目即可。
根據核查結果確定儀器是否可以繼續使用。如果核查結果異常，應進行分析，或者與儀器生產廠維修工程師聯系，查找原因，排除故障后重新核查或請計量部門檢定合格后才能繼續使用，同時對造成的影響進行評估，必要時應追溯已檢測過的樣品。